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title: プログラミングコース08 半導体向けAC計測：ファンクション試験
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author: [株式会社ペリテック](https://www.docswell.com/user/Peritec)
site: [Docswell](https://www.docswell.com/)
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description: プログラミングコース08の解説つきスライドです。 是非テキストや動画（Youtube）と併用ください。
published: April 30, 26
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プログラミングコース
P08半導体向けAC計測：ファンクション試験
SMUを使用した検査プログラミングを学ぶ
株式会社ペリテック


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本コースで習得すべき内容
① NI社製SMU（Source Measure Unit）を使用して、電圧計測・電流計測の
LabVIEWプログラムが作成できるようになること。
② 波形チャート、XYグラフを使用して計測データの数値表示・グラフ表示を行う
LabVIEWプログラムが作成できるようになること。
本コースで作成するプログラム
① 検査対象部品としてフォトカプラを使用し、電気的特性検査として発光側順電圧
検査プログラムを作成する。
② ファンクション試験としてスイッチング（ON/OFF）の動作確認を行うプログラムを
作成する。
※ NI＝米国ナショナルインスツルメンツ社


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本コースでプログラミングを学ぶシステム構成
PXIコントローラ
PXI-4130 SMU


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SMU（Source Measure Unit）とは
ソースメジャーユニット（SMU）は、 高精度に電圧／電流を供給すると同時に電圧／電流を測定できます。
NI PXI-4130 SMU Specification


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Step①発光側順電圧：データシートを確認する。
発光側：順電圧 VF（ 最小＝1.0V、標準＝1.15V、最大＝1.3V ）
測定条件IF＝10mA
Ｉ Ｆ－ＶＦ 特性
発光側
フォトカプラの回路略図
順電流 （IF）
受光側
順電圧 （VF）


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Step②発光側順電圧：サンプルプログラムを検索する。
DCPOWERでサンプルを検索する。
NI-DCPower Source DC Voltage.vi
NI-DCPower Source DC Voltage.vi のダイアグラム


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Step③発光側順電圧：検査プログラムを作成する。
①電圧レベルを0.4Vの定数に変更する。
②電流制限を50mAの定数に変更する。
③電圧レベルレンジを1.6Vの定数に変更する。
④電流制限レンジを50mAの定数に変更する。
⑤Forループを追加し0.4Vから0.01Vずつ増加して1.6Vまで電圧と電流を
計測する。計測の前に20msecの待ち時間を入れておく。
⑥計測した値（電流は1000倍してmAにする）をXYグラフに表示する。
⑦計測した値からVF値を算出する。
⑧最後にDCPOWER ResetとCloseを実行する。
⑦
⑥
⑧
①
②
③
④
⑤
電気的特性検査.vi のダイアグラム


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Step④発光側順電圧：検査プログラムを実行する。
PXI-4130にブレッドボードを使用して素子を接続し、検査プログラムを実行してみましょう。
ch1 +
ch1 -
VF算出VIのブロックダイアグラム


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Step⑤ファンクション試験：データシートを確認して検査回路を考える。
1.9kΩ
発光側
300Ω
受光側
①発光側は、ON時5Vの電圧を印加してIF=16mAとする。
②受光側は、5Vの電圧を印加しておき、電流リミットを10mAとする。
③受光側は、ON時、10mAの電流が流れ、電圧は1.9Vに降下する。
④PXI-4130のch0を発光側とし、ch1を受光側とする。


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Step⑥ファンクション試験：検査プログラムを作成する。
①ch0をDC電圧に指定し、電圧レベルを0V、電圧レベルレンジを5Vに指定する。
②ch0、電流制限及び電流制限レンジを20mAに指定する。
③ch1をDC電流に指定し、電流レベル及び電流レベルレンジを10mAに指定する。
④ ch1、電圧制限及び電圧制限レンジを5Vに指定する。
⑤Forループを追加し20msecの待ち時間を入れてch0とch1の電圧を5回計測する。
⑥ch0の電圧レベルを5Vに変更する。
⑦Forループを追加し20msecの待ち時間を入れてch0とch1の電圧を5回計測する。
⑧判定値のデータを取り出すサブVIを作成する。
⑨最後にDCPOWER ResetとCloseを実行する。
⑧
①
②
⑨
⑥
⑤
③
④
ファンクション検査.vi のダイアグラム
⑦


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Step⑦ファンクション試験：検査プログラムを実行する。
PXI-4130にブレッドボードを使用して素子を接続し、検査プログラムを実行してみましょう。
ch0 +
1.9kΩ
ch1 +
300Ω
ch0 ch1 -
IF_VCE判定値VIのブロックダイアグラム


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まとめとポイント
① 検査対象部品のデータシートを確認して検査項目と検査方法を検討する。
② 電圧あるいは電流の開始・終了及びステップ値が検査速度と検査精度に影響する。
③ DCPOWERでサンプルプログラムを検索し、検査プログラムの検討を行う。
④ サンプルプログラムを改造して検査プログラムを作成する。
⑤ 電圧あるいは、電流の計測結果をもとにOK/NG判定データを算出するサブVIを作成する。


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付録．１ シーケンスモードを使用したプログラム例
シーケンスモードを使用するとForループで計測処理を実行しなくて
も先に配列データを用意することで計測が自動的に実行されます。
（サンプルプログラムの例）
NI-DCPower Hardware-Timed Voltage Sweep.vi
（PXI-4130は、シーケンスモードをサポートしておりません、）